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日立 掃描電子顯微鏡 價格：元 編號： SU3900

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詳細內容 規格參數 產品包裝

①SU3900標配多功能超大樣品倉，可應對大型樣品的觀察

■樣品臺可搭載超大/超重樣品

  • 通過更換樣品提示，可防止由于與樣品的接觸而損壞設備或樣品

  • 選配樣品交換倉，可在主樣品倉保持真空的狀態下快速更換樣品，大大提高了工作效率

  • 具備樣品臺移動限制解除功能,提高了自由度*

  • 紅外CCD探測器，提高了樣品臺移動的安全性

■支持全視野移動。SEM MAP支持超大樣品的全視野觀察

  • 與GUI聯合，可配備樣品倉室導航相機

  • 覆蓋整個可觀察區域

  • 支持360度旋轉

②隨著各種自動化功能的強化，操作性能得到了進一步優化。

■一個鼠標就能夠輕松操作的簡約GUI

■各種自動化功能

  • 自動調整算法經改良后，等待時間減少至以往的1/3以下(※S-3700N比例)

  • 提高了自動聚焦精度

  • 搭載Intelligent Filament Technology（IFT）

■Multi Zigzag，可實現多區域的大視野觀察

■Report Creator，可利用獲得的數據批量生成數據報告

③可提供滿足測試需求的應用解決方案

■可滿足多種觀察需求的探測器

  • 搭載高靈敏度UVD*，支持CL觀察

  • 高靈敏度半導體式背散射電子探測器，切換成分/凹凸等多種圖像

■配備了多功能超大樣品倉，可以搭載多種配件

■SEM/EDS一體化功能*

■三維顯示測量軟件 Hitachi Map 3D*

■支持圖像測量軟件Image pro