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DYSK 納米粒度Zeta電位分析儀 價格: 編號:NANOTRAC WAVE II

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主要特點:

? 采用先進的動態光散射技術,引入能普概念代替傳統光子相關光譜法

? “Y”型光纖光路系統,通過藍寶石測量窗口,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,在加載電流的情況下,與膜電極對應產生微電場,測量同一體系的Zeta電位, 避免樣品交叉污染與濃度變化。

? 異相多譜勒頻移技術,較之傳統的方法,獲得光信號強度高出幾個數量級,提高分析結果的可靠性。

? 可控參比方法(CRM),能精細分析多譜勒頻移產生的能譜,確保分析的靈敏度。

? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計,減少了多重散射現象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。

? 快速傅利葉變換算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測系統獲得的能譜,縮短分析時間。

? 膜電極設計,避免產生熱效應,能準確測量顆粒電泳速度。

? 無需比色皿,毛細管電泳池或外加電極池,僅需點擊Zeta電位操作鍵,一分鐘內即可得到分析結果

? 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學元器件間傳輸的損失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。


粒度分析范圍:0.3nm-10μm 

重現性誤差:≤1% 

濃度范圍:100ppb-40%w/v 

檢測角度:180° 

分析時間:30-120秒 

準確性:全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子 

測量精度:無需預選,依據實際測量結果,自動生成單峰/多峰分布結果 

理論設計溫度:0-90℃,可以進行程序升溫或降溫 

兼容性:水相和有機相